平板探测器是用于X射线成像的一种设备，常用于医疗、工业检测等领域。根据不同的应用和性质，平板探测器可以分为以下几种类型：
1. 直接转换型平板探测器(Direct Conversion Detectors)：直接转换型平板探测器是将X射线直接转换为电荷信号的探测器。它通常使用有机闪烁体或硅材料，将X射线能量转换为光或电荷，并通过光电转换器或电子放大器转换为可读的信号。
2. 间接转换型平板探测器(Indirect Conversion Detectors)：间接转换型平板探测器使用闪烁材料来将X射线转换为光，然后使用光电转换器将光转换为电荷信号。常见的闪烁材料有钇铝石榴石(YAG：Ce)和铒铝石榴石(Gd2O2S：Eu)。
3. 多晶硅平板探测器(Polycrystalline Silicon Detectors)：多晶硅平板探测器是一种应用于X射线成像的硅基探测器。它可以直接将X射线转换为电荷信号，具有高分辨率和较低的噪声水平。
4. 增强型CMOS平板探测器(Enhanced CMOS Detectors)：此类平板探测器是基于增强型互补金属氧化物半导体(CMOS)技术的探测器。它具有高的动态范围、高分辨率和低噪声水平，常用于医学成像。
每种平板探测器都有其特点和适用的应用领域，选择合适的平板探测器取决于具体的成像需求。
